Семинар "Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа"
Предлагаем провести исследование ваших образцов на настольном сканирующем электронном микроскопе JEOL. В случае заинтересованности просим до 22 января 2020 г заполнить нижеприведённую регистрационную анкету с обязательным кратким описанием ваших образцов (материал, размер, степень подготовки и т. д.) и прислать её на почту m.gribova@inbox.ru
Место проведения: Дальневосточный геологический институт ДВО РАН, г. Владивосток, проспект 100-летия Владивостоку, 159, конференц-зал (остановка автобуса «Академическая», электрички «Чайка»).
Дата проведения: 30 января 2020 г (четверг)
Программа семинара:
|
9:30-10:00 |
Регистрация участников семинара | |
|
10:00-10:10 |
Открытие семинара | |
|
10:00-12:00 |
Мастер-класс по работе с настольным сканирующим электронным микроскопом JCM-7000 и демонстрация возможностей микроскопа на образцах первой группы участников |
Казутеру Каваучи (Kazuteru Kawauchi) – старший прикладной инженер СЭМ компании JEOL |
|
12:00-12:20 |
Кофе-брейк | |
|
12:20-13:20 |
Обзорная лекция «Просвечивающие и сканирующие электронные микроскопы компании JEOL» Лекция «Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 и его применение» |
Саито Кэнтаро (Saito Kentaro) – директор российского представительства компании JEOL Олег Кулинич – сервисный инженер российского представительства компании JEOL Казутеру Каваучи (Kazuteru Kawauchi) – старший прикладной инженер СЭМ компании JEOL |
|
13:20-15:20 |
Мастер-класс по работе с настольным сканирующим электронным микроскопом JCM-7000 и демонстрация возможностей микроскопа на образцах второй группы участников |
Казутеру Каваучи (Kazuteru Kawauchi) – старший прикладной инженер СЭМ компании JEOL |